环境温度

这里的环境温度是指测量物体附近或测温仪或红外热像仪附近的温度。

环境温度会以两种不同的方式影响红外温度测量。
一方面，环境温度会影响设备的内部温度，如果探测器本身也暴露在环境温度下，且没有冷却外壳保护，则会影响探测器的灵敏度。测量温度值的漂移取决于环境温度（–>温度系数），通常由设备固件进行全部或部分补偿。不过，必须注意确保红外测温仪的操作不超出其环境温度规格。

另一方面，如果测量物体的辐射率小于 1.000，并且物体反射的环境辐射或透过物体的环境辐射与测量物体的温度辐射相比具有显著的贡献，则环境温度会对温度测量结果产生影响。在计算中始终要考虑这些辐射贡献，以补偿不同于 1 的发射率。默认情况下，红外测量设备的内部温度（可能有偏移）被假定为环境温度的近似值。这种假设在很多情况下都是正确的。但是，如果被测物体的环境温度与测量设备的温度相差很大，例如因为被测物体位于烤箱中，而测温仪是通过观察窗观察烤箱的，则必须在配置中手动设置环境温度的实际值，或通过通信接口输入环境温度的实际值。

此外，还可能需要考虑两种不同的环境温度。如果测量对象是部分透明的（可以是玻璃或塑料薄膜），并且由于只有一侧有辐射加热器，因此测量对象前后的环境温度不同，就会出现这种情况。
如果要考虑辐射加热器或燃气火焰等高强度人工辐射源的影响，需要注意的是，这些辐射源通常不是黑体辐射器，甚至不是灰体辐射器。这意味着它们对所有波长的辐射率都不相同。气体火焰是选择性辐射器，即在特定且相对较窄的光谱范围内发射热辐射。基于金属丝退火辐射的辐射加热器在很宽的光谱范围内连续辐射，但对较短波长的辐射率高于对较长波长的辐射率。这意味着短波红外测温仪比长波测温仪受这种辐射源的影响更大，尽管干扰源在接触式测量中显示的温度相同。