校准

校准是确定待测红外测温仪的显示值与校准标准在各个温度下的指示值之间的关系，以及相关的不确定性。在过去，这与确定校正指示值的规定或确定校准曲线没有明确的区别。

对于所需的校准间隔没有一般的规范或建议；校准间隔取决于用途、环境条件和用户的要求，必须由用户确定，作为其测试设备质量管理的一部分。环境条件越恶劣，设备的测试频率就越高。持续的高温环境会影响探测器的灵敏度，而灰尘和蒸汽则会影响光学器件的透射率。
红外测温仪借助校准辐射器进行校准。这些黑体辐射器产生已知辐射温度的辐射，用于调整和校准。为了实现较低的校准不确定性，必须尽可能精确地知道校准辐射器产生的辐射温度。确定校准源辐射温度的一种方法是用接触式温度计测量其温度并确定其辐射率。第二种方法是使用传输标准辐射温度计（TSRT）直接测量辐射温度。
国家计量机构（如德国的联邦物理技术研究所）拥有高精度黑体辐射器，其辐射温度可溯源至 ITS-90（1990 年国际温标定点），不确定度很小。这些辐射器可用于校准传输标准辐射温度计（TSRT）。TSRT 反过来又可用于校准实验室的校准源，然后直接用于校准要测试的红外热像仪或测温仪。
由于所谓的光源尺寸效应，测量几何形状会影响读数，因此校准通常是针对特定的几何形状（辐射源的距离和孔径）进行的。这一信息不应与光学分辨率值（距离与光斑尺寸比）相混淆。D:S 可以告诉您，相对于校准几何图形，在多大的物体尺寸上信号下降到原始值的 90%。100% 值适用于校准几何图形，校准几何图形总是规定在一定距离上的测量点直径大于 D:S 值。
必须为测量创造良好的环境条件。实验 室的温度和湿度应尽可能符合制造商规定的校准环境温度和湿度（通常为 23 °C ± 5 °C，分别为 50 % (RH) ± 30 % (RH)）。
环境温度的变化必须低于 0.1K/分钟，因为许多测量设备和辐射器对此反应敏感。此外，辐射源，尤其是板式散热器，对气流非常敏感。必须避免空调系统、设备冷却器、打开的门窗造成的气流。
表面温度与实验室环境温度不同的设备在布置时应避免校准黑体和孔径上的冷热表面反射以及红外热像仪视场中的直接干扰辐射。
电磁场或机械振动和冲击等影响应大大低于制造商规定的限值。
有关红外热像仪校准的更多详情，请点击此处：
技术温度测量 – 使用热像仪进行温度测量 – 计量表征 – 关于标准 VDI 5585 第 1 部分：2018-03 的更正
有关测温仪校准模式的详细信息，请参见此处：
工业温度测量 – 辐射测温 – 辐射温度计的校准 VDI 3511 第 4.4 部分：2005-07