空腔效应

红外热成像中的腔体效应描述了一种现象，即腔体内表面（如孔、凹槽或凹陷）的表观发射率似乎高于平坦或暴露时的同一表面。表观发射率的增加源于腔体内红外辐射的多次反射。当红外辐射在腔体内发射或反射时，辐射可以在离开之前从腔壁上反弹数次。腔体内的每次反射都会增加辐射被吸收和重新发射的可能性，从而有效地增加表面的表观发射率。

在腔体内观察到的较高表观发射率是由于这些多次反射的累积效应。综合内部反射创造了一个类似于近乎完美的黑体的环境，无论材料的固有发射率如何，其发射率值都接近 0.998。这种近黑体行为将材料发射率或背景辐射变化对测量的影响降至最低。孔的深度必须至少是其直径的六倍，才能实现接近 1 的有效发射率。

这种现象也被称为楔形效应。通过利用楔形或半楔形效应，测量表面的发射率得到增强。这种方法仅适用于材料自然形成空腔或人工空腔（例如钻孔或线圈）的情况。