PI 带 2 倍放大率的 PI 640i 显微镜光学镜组

具有 2 倍放大倍率的 PI 640i 红外显微镜套件为需要精确温度数据的工程师提供了量身定制的解决方案，适用于小型电子设备或微机电系统 (MEMS)。该套件使用户能够直观地观察热变化并对微小目标进行测量，这种能力取决于探测器的分辨率。该系统的光学元件可将来自设备的红外热能聚焦到红外热像仪的探测器元件上，从而确保对小型元件进行准确而详细的热分析。

工程师经常会遇到使用接触式热电偶获得的温度测量值与适当配备的红外热像仪获得的温度测量值之间存在差异的情况，尤其是在处理小型目标时。这种差异通常是由于热电偶连接的热桥效应造成的，热桥效应会传导热量并影响测量精度。在这种情况下，非接触式红外热像仪往往能获得更精确的结果，因为它们避免了与接触式方法相关的热传导问题。

与在可见光谱范围内工作的显微镜一样，选择合适的光学器件需要在总观察视野与需要观察和测量的最小目标之间进行权衡。性能最高的 PI 640i 显微镜物镜可在 5.4 毫米 x 4.0 毫米的视场内检测小至 8 微米目标上的温度变化。将高分辨率红外热像仪与德国设计的红外显微镜物镜和精密安装平台集成在一起，可实现精确的工作距离调整，确保对微小部件进行精确细致的热分析。

红外热像仪制造商通常会强调单像素尺寸或 IFOV（瞬时视场），以展示热像仪分辨小目标的能力。然而，我们必须认识到，使用红外热像仪精确测量温度需要多个像素。探测器间距较小的红外热像仪需要多达 7 x 7 个像素，才能在红外热像仪规定的精度范围内进行温度测量。MFOV（测量视场）规格在确保温度测量正确性方面起着关键作用。

除了热噪声低之外，长波红外辐射的最佳像素间距为 17 微米，因此测量视场（MFOV）很小，仅为 4 x 4 像素。使用质量上乘、尺寸更大的光学器件可确保图像质量高，最大限度地减少畸变，并确保整个图像的均匀衰减。有多种可更换镜头光学器件可供选择，以正确取景并最大限度地增加待测目标的像素数。红外热像仪在标准模式下支持 32 Hz 的帧频，在高速子帧模式下支持 125 Hz 的帧频，从而实现了对快速制造过程的监控。

PI 640i 与 Optris PIX Connect 软件兼容，用户可免费下载该软件并获得更新。该软件包包括热点和冷点位置检测、直方图、温度曲线、图像减法和其他热图像处理工具等功能。对于研究人员和制程工程师来说，基于 PC 的 PIX Connect 平台具有强大的热图像处理功能，用户可以从场景中的任何像素提取并记录完全校准的温度测量值。

时间-温度数据可从实时热视频馈送和包含已存储温度数据的热视频文件中提取。工程师可以利用数据采集功能，从任何大小或形状的区域中提取最高、最低和平均温度，并接收复杂的报警信号。此外，系统还支持逐帧重放已存储的热视频，使工程师能够捕捉和存储辐射图像，并在温度变化时触发快照。这一功能可确保对一段时间内的热事件进行全面监控和详细分析。

许多工程师使用温度/时间功能从电子设备上的多个位置长时间收集数据，该功能按用户指定的时间间隔记录数据并将其存储在 .csv 文件中。有些工程师更喜欢获取完整的图像，并使用校准序列文件或校准 .tiff 图像，这些图像可以在用户指定的时间间隔内捕获。快照序列存储例程还有助于以用户指定的时间间隔存储完整温度矩阵的 CSV 文件，为详细分析和报告提供全面的温度数据记录。

随附免许可证的热成像软件 Optris PIX Connect。所有红外热像仪均随附热成像软件 optris PIX Connect，该软件专为大量记录和分析热图像而开发。基于 Windows 的 PIX Connect 软件使用户能够定制红外热像仪，以满足特定要求。它可以分析实时和记录的温度数据，并触发报警信号，实现过程集成。要充分利用 Optris 红外热像仪，关键在于正确配置。这包括详细的设备特定配置，如帧速率、测量范围调整、外部通信设置和 USB/以太网配置。此外，PIX Connect 还可通过互联网方便地进行固件更新和下载配置文件。 PIX Connect Optris 为 Xi 和 PI 红外热像仪提供多种不同的 SDK。根据操作平台、红外热像仪、编码语言和硬件平台的不同，可使用不同的软件接口： SDK Optris IRmobile 允许用户使用安卓智能手机或平板电脑设置和调试 Optris 红外测温仪或红外热像仪。该工具在调试和校准红外热像仪视场或调整配置时非常方便。该应用程序可分析所连接红外热像仪的实时红外图像流，并自动检测热点和冷点。对于高温计，可显示温度-时间图或视频信号。该应用程序适用于大多数运行 5.0 及以上版本、带有支持 USB-OTG （On The Go）的 USB 端口的安卓设备。 Google Play

我可以在 MO2X 和 MO44 光学镜组之间切换吗？

可以。可以在现场更换光学镜组并提供校准的温度测量值，前提是两个光学镜组都与所配的特定 PI 640i 进行了校准。为了正确校准，请确保从 “配置 “菜单 “设备 “选项卡 “光学器件 “下拉框中选择连接到相机的光学器件。如果托管 PIX Connect 软件的 PC 处于联机状态，则所有与您的序列号摄像机一起校准过的光学镜组都将在此框中显示。

我是否可以使用非显微视场光学镜组来拍摄印刷电路板等较大的目标？

可以。PI 640i 有四种额外的光学镜组，可与相机一起校准使用。这极大地扩展了 PI 640i 的应用潜力，可对全尺寸印刷电路板或其承载产品进行热成像和温度测量。与显微镜光学镜组一样，切换光学镜组时也要确保选择正确的校准文件。

我有显微镜光学镜组。可以使用吗？

使用可见光相机开发的显微镜光学镜组不能传输 PI 640i 响应光谱区域内发出的红外辐射，因此不能与红外热像仪一起使用。未与 PI 640i 一起校准的红外光学镜片有可能提供放大的热图像，但无法提供校准的温度测量值。

为什么需要显微镜平台？

可以使用显微镜物镜外侧的滚花环进行微距对焦，但对工作距离进行微调可以显著提高图像清晰度和温度测量精度。每套显微镜套件的平台都有助于进行微小的工作距离调整。如果图像没有达到最佳聚焦，温度测量就不会准确。

我可以测量连接到小型电子设备的引线的温度吗？

可以使用功能强大的红外显微镜光学器件看到小型引线，但这些引线通常由会反射热能的低辐射金属制成。引线需要涂上碳黑或黑色平漆，才能用红外热像仪准确测量。由金属制成的部件（罐）也是如此。如果金属引线无法使用高发射率涂层进行处理，那么引线与设备的高发射率连接点通常可以表明相关引线的运行温度高于预期。

我能看穿印刷电路板上的层吗？

FR-4 和聚四氟乙烯（PTFE）是印刷电路板中常用的基底层材料。它们在红外区域不透射，因此用红外热像仪无法看透。但是，特定区域的热量可能会通过不同的印刷电路板层传导到电路板顶层，从而将传导的热量呈现给电路板表面该区域的红外热像仪。可能需要对相机设置进行优化，以提高灵敏度，从而看到来自内层的小短路。在 PCB 层之间插入铜箔可以减弱或完全阻止热量从内层流向电路板的顶层表面。

红外热像仪能否在 PCB 生产过程中验证芯片和基板的温度？

任何红外测量都要求摄像头光学器件与被测表面之间有清晰的视线。如果没有接入端口、安装和相机冷却装置，就不可能在回流炉中进行红外温度测量。虽然目前市场上还没有具备这种功能的系统，但有一种强制对流 SMT 回流焊系统正在开发中，该系统使用 Optris 红外热像仪的线扫描模式测量温度，并通过回焊炉中四个位置的小缝隙生成完整的红外图像。

• 红外热像仪 PI 640i，带 2 倍显微镜光学镜组
• USB 电缆（1 米）
• 输出/输入电缆（1 米），包括接线端子
• 坚固的户外运输箱（IP67）
• 显微镜支架
• 带防静电垫的底板
• 软件包 Optris PIX Connect
• 快速入门指南