PI 640i 显微镜 MO2X 附件套装

显微镜光学镜组是专为 PI 640i 红外热像仪设计的附件，是拥有 PI 640i 和其他可互换光学镜组的客户的理想之选。该套件提供 2 倍放大率，可为小型电子设备和微机电系统提供精确的温度数据，对半导体应用至关重要。用户可以利用热像仪探测器的分辨率，直观地观察热变化并测量微小目标。光学元件将红外热聚焦到红外热像仪的探测器元件上，从而能够在 5.4 mm x 4.0 mm 的视场范围内检测到尺寸小至 8 µm 的极微小结构的温度变化。高分辨率红外热像仪集成了德国设计的光学元件和精确调节功能，确保了精确测量，4 x 4 像素的小视场角提高了测量精度

一般规格

• 工作温度范围 0…50°C
• 存储温度范围：-40…70 °C
• 相对湿度：20 – 80 %，无冷凝
• 尺寸：410 x 230 x 420 毫米 410 x 230 x 420 毫米

光学规格

• 视场角 10°x 8°
• 焦距：60 毫米
• F 值：1.3
• 光学分辨率： 440:1 440:1
• 目标距离： 15 毫米
• 可更换光学镜组： 是

测量规格

• 目标测量范围：-20…100°C、0…250°C、150…500°C”
• 精度： ±2°C 或 ±2 %，以较高者为准
• 热灵敏度 (NETD)： 80mK
• 最小可探测光斑尺寸 IFOV（1 像素）： 8 微米
• 最小可测量光斑尺寸 MFOV： 32 微米
• 测量视场 (MFOV)： 4×4 像素

我可以在 MO2X 和 MO44 光学镜组之间切换吗？

可以。可以在现场更换光学镜组并提供校准的温度测量值，前提是两个光学镜组都与所配的特定 PI 640i 进行了校准。为了正确校准，请确保从 “配置 “菜单 “设备 “选项卡 “光学器件 “下拉框中选择连接到热像仪的光学器件。如果托管 PIX Connect 软件的 PC 处于联机状态，则所有与您的序列号热像仪一起校准的光学镜组都将在此框中显示。

我是否可以使用非显微视场光学镜组来拍摄印刷电路板等较大的目标？

可以。PI 640i 有四种额外的光学镜组，可与热像仪一起校准使用。这极大地扩展了 PI 640i 的应用潜力，可对全尺寸印刷电路板或其所在产品进行热成像和温度测量。与显微镜光学镜组一样，切换光学镜组时也要选择正确的校准文件。

我有显微镜光学镜组。可以使用吗？

使用可见光热像仪开发的显微镜光学镜组不能传输 PI 640i 响应光谱区域内发射的红外辐射，因此不能与红外热像仪一起使用。未与 PI 640i 一起校准的红外光学镜片有可能提供放大的热图像，但无法提供校准的温度测量值。

为什么需要显微镜平台？

可以使用显微镜物镜外的滚花环进行微距对焦，但对工作距离进行微调可以显著提高图像清晰度和温度测量精度。每套显微镜套件的平台都有助于进行微小的工作距离调整。如果图像没有达到最佳聚焦，温度测量就不会准确。

我可以测量连接到小型电子设备的引线的温度吗？

可以使用功能强大的红外显微镜光学器件看到小型引线，但这些引线通常由低辐射金属制成，会反射热能。引线需要涂上碳黑或黑色平漆，才能用红外热像仪准确测量。由金属制成的部件（罐）也是如此。如果金属引线无法使用高发射率涂层进行处理，那么引线与设备的高发射率连接点通常可以表明相关引线的运行温度高于预期。

我能看穿印刷电路板上的层吗？

FR-4 和聚四氟乙烯（PTFE）是印刷电路板中常用的基底层材料。它们在红外区域不透射，因此用红外热像仪无法看透。但是，特定区域的热量可能会通过不同的印刷电路板层传导到电路板顶层，从而将传导的热量呈现在电路板表面该区域的红外热像仪上。可能需要对热像仪设置进行优化，以提高灵敏度，从而看到来自内层的小短路。在 PCB 层之间插入铜箔可以减弱或完全阻止热量从内层流向电路板的顶层表面。

红外热像仪能否在 PCB 生产过程中验证芯片和基板的温度？

任何红外测量都要求热像仪光学器件与被测表面之间有清晰的视线。如果没有接入端口、安装和热像仪冷却装置，就不可能在回流炉中进行红外温度测量。虽然目前市场上还没有具备这种功能的系统，但有一种强制对流 SMT 回流系统正在开发中，该系统使用 Optris 红外热像仪的线扫描模式测量温度，并通过回流炉中四个位置的小缝隙生成完整的红外图像。

• 显微镜光学镜组 MO2X
• 坚固耐用的户外运输箱（IP67）
• 带粗驱动和细驱动的高级显微镜支架
• 显微镜支架
• 带防静电垫的底板
• optris PIX Connect 软件包
• 快速入门指南