热灵敏度
NETD:定义、物理意义及影响因素
噪声等效温差(NETD)被定义为热像仪或测温仪能够分辨的最小温差。换句话说,NETD 表征了红外热像仪或测温仪的热灵敏度:它量化了系统在其内部噪声底色之上,能够检测到的最小温度对比度。
工程师们有时会把 NETD 与整体测量不确定度混淆。NETD 并不是温度测量的完整“不确定度”;相反,NETD 只是随机噪声对温度读数的贡献。同样地,NETD 也不应该用来表征几分钟内的漂移或稳定性。
NETD 与绝对误差、系统误差或包含漂移在内的整体重复性并不相同。它也不同于最小可分辨温差(MRTD)——后者涉及空间分辨率和目标识别阈值;它同样不同于非均匀性或不均匀性(IETD)——后者描述的是像素与像素之间的差异。NETD 纯粹是指在观测均匀目标时,读数在帧与帧之间波动的剧烈程度。
从形式上来说,NETD 是由高频时间噪声引起的测量不确定度份额。它被定义为黑体的温差,该温差能使红外热像仪产生等于 1 的信噪比。对于单个探测器像元,NETD 以 68.3% 置信度(包含因子 k = 1)的标准不确定度形式给出。NETD 不包括图像平均值的缓慢漂移;在测试过程中必须去除这类成分。
根据标准化测量标准(VDI/VDE 5585)红外热像仪与测温仪的噪声等效温差(NETD)
在数学上,NETD 可以通过测量红外热像仪或测温仪在均匀照射下的时间噪声来获得。在实际应用中,测量读数通常会被汇总到一个直方图中,并利用该直方图的标准差来验证其是否符合预期的正态分布。对于测温仪而言,只需分析单个时间序列即可;而对于红外热像仪,则必须对每个像素分别进行考虑。

德国技术指南 VDI/VDE 5585 Blatt 1 (2018) 明确定义了噪声等效温差(NETD),并规定了使用红外热像仪对其进行测量的方法。VDI 5585-1 规定了两种用于 NETD 测量的标准方法,以适应不同的热像仪设计。这两种方法均假设热像仪已经过非均匀性校正,并且都要求黑体具有极高的稳定性。
方法 A(逐帧标准差法):红外热像仪观测一个处于固定温度下的稳定、均匀黑体。在设定的积分时间和帧率下,至少连续记录 100 帧图像。对于每个像素单元,计算其温度信号随时间变化的标准差。随后,将这些像素级标准差的平均值作为 NETD。这一步骤等同于绘制像素值随时间变化的直方图,并取其均方根(RMS)宽度。
下述方程计算了每个像素的标准差,其中 N>100 为数据点的数量,Ti为每个数据点的温度值。每个 NETD 都会被映射到一个矩阵中,为了获得关于 NETD 的总体信息,会对每个像素级的 NETD 进行平均。
[math]NETD_{A}=\sigma=\sqrt{\sum_{i=1}^N}\left(T_{i}-T_{mean}\right)^{2}[/math] with [math]T_{mean}=\frac{1}{N}\sum_{i=1}^NT_{i}[/math]
方法 B(双帧差分法):当热像仪仅输出处理后的温度图像,或者拍摄大量图像不切实际时,这种更快捷的方法非常适用。热像仪在完全相同的条件下连续捕获均匀源的两幅图像,然后计算这两幅图像之间逐个像素的差值。利用以下公式,即可从这些差值中计算出 NETD。红外热像仪的平均 NETD 可以通过以下方程组计算得出,其中 nh 是图像的水平像素数,nv 是图像的垂直像素数。
[math]NETD_{B}=\frac{\sqrt{2}}{2}\sqrt{\sum_{i=1}^{n_{h}}\sum_{j=1}^{n_{v}}\frac{\left(\triangle T_{i,j}-\triangle T_{i,j_{mean}} \right)}{n_{h}n_{v}}^{2}}[/math]
with [math]\triangle T_{i,j}=T_{i,j}\left(t\right)-T_{i,j}\left(t+\triangle T\right)[/math]
and [math]\triangle T_{i,j_{mean}}=\frac{1}{N}\sum_{i,j=1}^N T\left(i,j\right)[/math]
这实际上是计算了像素差值的标准差,并引入了√2 的修正因子。因为将两幅相同的图像相减只会留下噪声,所以该方法能够提供整体(系综)NETD。这在标准 VDI 5585 中被定义为一种替代方法,适用于无法获取单像素时间序列的情况。
影响 NETD 的因素
NETD 并非红外热像仪或测温仪固定不变的绝对特性;它在很大程度上取决于测试条件和仪器设置。关键影响因素包括:
- 场景温度:在其他条件相同的情况下,NETD通常会随着场景温度的升高而降低。由于红外传感器是对辐射亮度做出响应,因此NETD取决于光源的辐射温度。在实际应用中,NETD通常是在给定的场景温度下指定的。黑体的热导数(dR/dT )在较高温度下更大。因此,对于相同的探测器噪声电压,100 °C 的目标每度所产生的信号变化要比25 °C 的目标更大。图 1 以 PI 640i 红外热像仪为例展示了这一现象。

- 积分时间与帧率或采样率:红外传感器每帧的积分(或曝光)时间决定了所收集信号的多少。较长的积分时间可以增加信号量,并往往能减小读取噪声的影响,从而降低NETD。在实际应用中,将积分时间延长一倍大约可以使 NETD 降低至原来的 √2 ,直到其他噪声(如 1/f 闪烁噪声)占据主导地位。这一效应如图 2 所示,该图以面对环境温度黑体目标的 PI 640为例展示了这种影响。

- 光学系统:镜头和光学元件控制着到达探测器的红外能量多少。光圈更大的镜头(更低的 f/#, )允许更多光线进入,从而降低 NETD。光圈较小的镜头(更高的 f/#)则会增高 NETD。NETD 的大小大致与 F 码成正比:例如,一款在 f/1.0 光圈下具备良好 NETD 的红外热像仪,在改用 f/1.3 镜头时,即使探测器和热像仪完全相同,其 NETD 也会显着变差,因为 f/1.3 的镜头收集到的辐射能量更少。
- 探测器温度与热像仪稳定化:对于非制冷型微测热辐射计,传感器的温度会随环境温度或自身发热而发生漂移。如果探测器的内部工作温度升高,其暗噪声通常会随之增加,进而导致 NETD 变差。
- 信号处理:通过芯片上(片上)或后处理技术(例如帧平均、滤波或“盲元/坏点”消除),可以降低原始探测器的噪声。在报告 NETD 时,必须说明是否使用了任何时间平均处理。制造商通常会应用数字平均技术,以 √N 的倍数来改善有效的 NETD。

为了保证可比性,VDI/VDE 5585 明确规定了必须如何测量和报告 NETD。在提供 NETD 值时,必须同时注明场景的辐射温度、测量时间参数(如帧率和/或积分时间)以及任何图像平均处理情况。对于配备可更换光学镜头或滤光片的系统,须指明具体的镜头和滤光片型号。如果热像仪具有可切换的测量温度量程,则应说明当时激活的是哪一个量程。提供这些参数能够确保测试的可重复性,并实现同类产品之间的公平比较。
图像质量中的 NETD
在成像方面,较低的 NETD 可以提高微小热特征的对比度(可视性);而较高的 NETD 则会导致图像看起来噪点更多,从而使细微的温度变化变得模糊不清。对于故障检测、医学热成像或目标识别等应用而言,较低的 NETD 通常意味着更优异的性能。原则上,一台 NETD=50 mK 的热像仪能够分辨两个外观相同的物体之间 0.05 K 的温差,而一台NETD=100 mK 的热像仪在相同的信噪比(SNR)下则需要 0.1 K 的温差。需要特别指出的是,NETD 专门指时间噪声——即帧与帧之间的随机波动——而非整个阵列的随空间非均匀性。VDI 5585 明确将 NETD 定义为由高频时间噪声引起的不确定度分量。
换句话说,NETD 指的是图像随时间推移而产生的随机“颗粒感”(噪点)。相比之下,漂移或偏置不稳定性是指偏置或增益的缓慢变化,这并不在 NETD 的捕捉范围内。漂移是一种低频效应,在性能参数中被归为另一类独立指标。
图 4 展示了在不同 NETD 水平下的人脸图像。首先通过帧平均处理使该人脸图像具备极低的 NETD,第二步再重新添加更多噪声以模拟不同的 NETD 水平,从而让人对其有直观的感受。在均匀背景上,噪声变得愈发明显,但即便在较高的 NETD 值下,人脸的特征依然清晰可见。只有在极高的噪声水平下,脸部的细节才变得难以辨识。
图 5 通过相同的处理过程,展示了在不同噪声水平下一只手的视频画面。在这里,图像未经过下采样(降采样)或平均处理。


总结
- NETD 的本质:NETD 是红外热像仪或测温仪能够检测到的最小温差,它反映了时间上的随机噪声。按照惯例,它是指在均匀黑体上信噪比 SNR=1 时的 1σ 值。
- 概念区分:NETD 并不等同于整体测量不确定度、偏置、漂移/稳定性、数分钟内的重复性、最小可分辨温差(MRTD)或空间非均匀性。
- 影响因素:场景辐射温度、积分时间/帧率、镜头 F 码(光圈)、探测器温度/稳定化状态,以及任何时间平均或滤波处理都会对其产生影响。
- 对成像的影响:更低的 NETD⇒ 更细腻的可视热对比度;更高的 NETD ⇒ 图像噪点更多。
文献
- VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA), VDI/VDE 5585, Blatt 1: Technische Temperaturmessung – Temperaturmessung mit Thermografiekameras – Messtechnische Charakterisierung (German/English edition). Düsseldorf, Germany: Verein Deutscher Ingenieure e.V., Mar. 2018.
- Hecht, Eugene. Optik, Berlin, Boston: De Gruyter, 2018. https://doi.org/10.1515/9783110526653
- De Witt, Nutter: Theory and Practice of Radiation Thermometry, 1988, John Wiley & Son, New York, https://doi.org/10.1002/9780470172575
